專利摘要顯示,本申請公開了一種碳足跡數(shù)據(jù)的測算方法、裝置、電子設(shè)備和存儲介質(zhì),該方法和裝置應(yīng)用于電子設(shè)備,用于測算產(chǎn)品生產(chǎn)過程中的碳足跡數(shù)據(jù),具體為確定在生產(chǎn)待測算產(chǎn)品的過程中所涉及的生產(chǎn)環(huán)節(jié);對待測算產(chǎn)品在每個生產(chǎn)環(huán)節(jié)所涉及的物料構(gòu)成進行分解處理,得到生產(chǎn)待測算產(chǎn)品的多種物料品種;基于
碳排放計算模型對每種物料品種的物料參數(shù)進行計算,得到多個物料排放數(shù)據(jù),并對多個物料排放數(shù)據(jù)進行匯總得到待測算產(chǎn)品的碳足跡數(shù)據(jù)。該碳足跡數(shù)據(jù)即為產(chǎn)品制造過程中的碳足跡數(shù)據(jù),從而為企業(yè)降低碳排放提供了數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。